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File:AFMsetup.jpg

AFMsetup.jpg （721 × 569像素，文件大小：86 KB，MIME类型：image/jpeg）

摘要

描述
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
日期 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
来源

http://kristian.molhave.dk

作者 yashvant
授权
(二次使用本文件)		 CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
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当前2006年11月21日 (二) 14:102006年11月21日 (二) 14:10版本的缩略图721 × 569（86 KB）KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

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