X射线吸收光谱

(重定向自X光吸收光谱

X光吸收光谱X-ray absorption spectroscopy,缩写:XAS)是目前广泛应用于取得气态分子、及凝体(例如,固体)中,目标原子之区域(原子尺度)结构资讯及电子状态的一种技术。

图1:贡献于XAS边缘的转换
图2:XAS数据的三个区域

光源

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X光吸收光谱可借由调变X光光子能量,于目标原子束缚电子激发能量范围内进行扫描而得。通常需使用同步辐射设施以提供高强度并可调变波长之X光光束。

光谱区域

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X光吸收光谱相关的技术,有称之为X光吸收细微结构(X-ray Absorption Fine Structure, XAFS),或延伸X光吸收细微结构(Extended X-ray Absorption Fine Structure, EXAFS)。另外,X光吸收光谱区段在接近目标原子之壳层电子激发处,目标原子之壳层电子吸收光子,会有一陡直的上升,常称之为X光吸收近边缘结构(X-ray Absorption Near-Edge Structures,XANES)或X光吸收近边缘结构(Near-Edge X-ray Absorption Fine Structure,NEXAFS)。

应用及样品型态

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由于X光穿透能力强,光谱各种目标原子的吸收区域重叠性也不高,在分子、材料科学生物学化学地球科学环境科学等各领域都有相当广泛的应用。其受测样品可以是粉末液体气态样品。依实验方法及实验站设计,可进行高、低压、高、低温、原位(in-situ)实验。


实验方法概述

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穿透法

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最常用且容易的方法,以台湾NSRRC同步辐射的X光吸收光谱实验站为例,X光光源经单光器选择光源能量后,引导至实验站,以一气体离子腔侦测入射光源强度I0,光束通过离子腔之后,打在样品,再由样品后的离子腔侦测穿过样品后光束剩余强度It。在It离子腔后,可选择性加置一参考标准品及另一离子腔Ir,以做为能量校正。实验时,改变光源之单光器来扫描目标原子的能量范围,即可以 求取各能量位置的吸收度。穿透法的限制在于样品的浓度,过浓会有自吸收的效应,太稀讯杂比不好也无法分析。

萤光法

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萤光法利用目标原子在吸收光源后跃迁回基态所放出的萤光强度,来判定被吸收光子的量。可用于高浓度粉末或液体形态的样品。常用的侦检器为Lytle detector,并以特定滤光片去除光源的影响。测得的萤光光源 正比于吸收强度,可以用 得到吸收光谱。

电子产率

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参考文献

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外部链接

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参见

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