File:Illustration of C-V measurement.gif
Illustration_of_C-V_measurement.gif (322 × 308 像素,檔案大小:93 KB,MIME 類型:image/gif、循環、18 畫格、5.4秒)
檔案歷史
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日期/時間 | 縮圖 | 尺寸 | 使用者 | 備註 | |
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目前 | 2010年5月17日 (一) 19:26 | ![]() | 322 × 308(93 KB) | Beatnik8983 | {{Information |Description={{en|1=C-V measurements can reveal oxide thickness, oxide charges, contamination from mobile ions, and interface trap density in wafer processes. In this image the C-V profile for a bulk p-type substrate MOSCAP with different ox |
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