三維結構照明顯微鏡
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三維結構照明顯微鏡是一個更高級的形式的 光學顯微鏡,它的解像度超過了阿貝顯微極限。 三維結構照明顯微鏡由Lukosz和Marchand1963年提出,[1][2] 並由領導G.L.Gustafsson的一個小組和在加利福尼亞大學的John W. Sedat的發展。[3] 商業版 應用精確度 作為"投資"[4], 卡爾*蔡司 作為一個"ELYRA p. 1 PS。1"[5],以及通過 尼康 為"N-SIM"[6] 提供。
工作原理
編輯三維結構照明顯微鏡的熒光激勵通過空間調製結構照明(通常形式的一線光柵)來實現。為此,要拍攝多張樣品的圖片,圖片通常相對上一張逐個移動,由此產生三維結構。然後可以從這些存儲的原始圖像計算對象的圖像(具有增加的解像度)。 解像度的增加基於莫爾效應的原理,其中檢測到的圖像被解釋為(已知的)照明圖案和(未知的)物體頻率的疊加。 在條紋圖案的情況下,圖案的相位位置在至少5步的時段內移位。 由於條紋圖案僅在一個方向上被調製,因此必須在圖案的至少三個方向上記錄原始圖像。 與2D SIM變體相比,3D SIM保存整個體積的原始圖像,並使用測量體積的圖像來計算解像度增加的體積。 因此,微觀解像度可以在所有三個空間方向上加倍。
個別的證據
編輯- ^ W. Lukosz, M. Marchand: Optischen Abbildung Unter Überschreitung der Beugungsbedingten Auflösungsgrenze. In: Optica Acta. 10, Nr. 3, 1963, S. 241–255. doi:10.1080/713817795.
- ^ Carl Zeiss MicroImaging GmbH: Superresolution Structured Illumination Microscopy (SR-SIM).
- ^ M. G. Gustafsson, L. Shao, P. M. Carlton et al: Three-dimensional resolution doubling in wide-field fluorescence microscopy by structured illumination. In: Biophysical journal. 94, Nr. 12, Juni 2008, S. 4957–4970. doi:10.1529/biophysj.107.120345. PMID 18326650.
- ^ API DeltaVision OMX. Appliedprecision.com. [2010-06-23]. (原始內容存檔於2011-01-09).
- ^ Carl Zeiss MicroImaging GmbH: ELYRA Enter the World of Superresolution.
- ^ www.nikon.com 錯誤:存檔服務未知的存檔,存檔日期[缺少日期],