微分干涉相差顯微鏡

微分干涉相差顯微技術(DIC),又稱Nomarski干涉相差顯微技術Nomarski顯微鏡,是一種增強對比度來觀察未染色的透明的樣品的光學顯微鏡。DIC根據干涉測量獲取有關樣品光路長度英語Optical path length信息,以查看其他不可見的特徵。相對複雜的光學系統產生具有灰色背景的黑色或白色的圖像。該圖像類似於通過相差顯微鏡獲得的但沒有明亮衍射光暈的圖像。該技術由波蘭物理學家Georges Nomarski英語Georges Nomarski在1952年研發。[1]

Micrasterias furcata 的DIC顯微成像
鈮酸鋰(LiNbO3)在150倍Nomarski顯微鏡下觀察到雷射誘導的光反射損傷

DIC通過將偏振光源分離成在樣品平面上空間位移(剪切)的兩個正交偏振相干部分,並在觀察之前重組。複合時兩部分的干涉對其光程差(即折射率乘積和幾何路徑長度)敏感。添加可調節的偏移相位確定在所述樣品中的零光程差的干涉,對比度是正比於沿剪切方向的路徑長度梯度,得到三維的光密度變化的樣本圖像,圖像強調線條和邊緣,但不提供表面上準確的圖像。

參考文獻

編輯
  1. ^ Lang, Walter. Nomarski differential interference-contrast microscopy (PDF). ZEISS Information. 1968, 70: 114–120 [31 August 2016]. (原始內容 (PDF)存檔於2022-06-16). 

外部連結

編輯