微分干涉相差顯微鏡
微分干涉相差顯微技術(DIC),又稱Nomarski干涉相差顯微技術或Nomarski顯微鏡,是一種增強對比度來觀察未染色的透明的樣品的光學顯微鏡。DIC根據干涉測量獲取有關樣品光路長度信息,以查看其他不可見的特徵。相對複雜的光學系統產生具有灰色背景的黑色或白色的圖像。該圖像類似於通過相差顯微鏡獲得的但沒有明亮衍射光暈的圖像。該技術由波蘭物理學家Georges Nomarski在1952年研發。[1]
![](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/4/47/Micrasterias_radiata.jpg/270px-Micrasterias_radiata.jpg)
![](http://upload.wikimedia.org/wikipedia/commons/thumb/4/4d/Laser-Induced_Optical_Damage_in_LiNbO3.jpg/220px-Laser-Induced_Optical_Damage_in_LiNbO3.jpg)
DIC通過將偏振光源分離成在樣品平面上空間位移(剪切)的兩個正交偏振相干部分,並在觀察之前重組。複合時兩部分的干涉對其光程差(即折射率乘積和幾何路徑長度)敏感。添加可調節的偏移相位確定在所述樣品中的零光程差的干涉,對比度是正比於沿剪切方向的路徑長度梯度,得到三維的光密度變化的樣本圖像,圖像強調線條和邊緣,但不提供表面上準確的圖像。
參考文獻
編輯- ^ Lang, Walter. Nomarski differential interference-contrast microscopy (PDF). ZEISS Information. 1968, 70: 114–120 [31 August 2016]. (原始內容 (PDF)存檔於2022-06-16).