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JTAG

联合测试工作组（英语：JTAG, Joint Test Action Group），是个工业标准，用于验证设计与测试生产出的印刷电路板功能。

1990年，JTAG正式由电机电子工程师学会（IEEE）进行文档标准化，编号为IEEE 1149.1-1990。在1994年，加入了补充文档对边界扫描描述语言（BSDL）进行了说明。从那时开始，这个标准被全球的电子企业广泛采用。边界扫描几乎成为了JTAG的同义词。

在设计印刷电路板时，目前最主要用在测试积体电路的副区块，而且也提供一个在嵌入式系统很有用的侦错机制，提供一个在系统中方便的"后门"。当使用一些侦错工具像电路内模拟器用JTAG当做讯号传输的机制，使得程式设计师可以经由JTAG去读取整合在CPU上的侦错模组。侦错模组可以让程式设计师侦错嵌入式系统中的软体。

电气特性

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JTAG的介面是一种特殊的4/5个接脚介面连到晶片上 ，所以在电路版上的很多晶片可以将他们的JTAG接脚通过Daisy Chain的方式连在一起，并且Probe只需连接到一个“JTAG端口”就可以访问一块印刷电路板上的所有IC。这些连接引脚是：

  1. TDI（测试数据输入）
  2. TDO（测试数据输出）
  3. TCK（测试时钟）
  4. TMS（测试模式选择）
  5. TRST（测试复位）可选。
 
JTAG链的一个例子

因为只有一条数据线，通信协议有必要像其他串行设备接口，如SPI一样为串列传输。时钟由TCK引脚输入。配置是通过TMS引脚采用状态机的形式一次操作一位来实现的。每一位数据在每个TCK时钟脉冲下分别由TDI和TDO引脚传入或传出。可以通过加载不同的命令模式来读取芯片的标识，对输入引脚采样，驱动（或悬空）输出引脚，操控芯片功能，或者旁路（将TDI与TDO连通以在逻辑上短接多个芯片的链路）。TCK的工作频率依芯片的不同而不同，但其通常工作在10-100MHz（每位10-100ns）。

当在集成电路中进行边界扫描时，被处理的信号是在同一块IC的不同功能模块间的，而不是不同IC之间的。

TRST引脚是一个可选的相对待测逻辑低电平有效的复位开关——通常是异步的，但有时也是同步的，依芯片而定。如果该引脚没有定义，则待测逻辑可由同步时钟输入复位指令而复位。

尽管如此，极少消费类产品提供外部的JTAG端口接口，但作为开发样品的残留，这些接口在印刷电路板上十分常见。在研发后，这些接口常常为反向工程提供了非常良好的途径。

 
JTAG-Zustandsautomat

常用的扩展

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关于制造商的扩展：英飞凌，MIPS EJTAG，飞思卡尔COP, ARM ETM (Extended Trace Macrocell), OnCE etc.

广泛的应用

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  • 几乎所有的嵌入式系统都具有JTAG端口。
  • PCI总线接口包含JTAG引脚。一种特殊的JTAG卡可以用来刷新被破坏了的BIOS。

客户端软件

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可以通过使用一些支持JTAG的应用程序来访问JTAG接口。

免费软件

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私有软件

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外部链接

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