晶圓切割,是半導體器件製造過程中,將裸晶半導體成品晶圓上分離出來的過程。[1]晶圓切割進行於光刻工藝之後的,涉及劃線、斷裂、機械鋸切[2]激光切割等等,切割方法通常都自動化以確保精度和準確性。[3]切割後單個芯片可以被封裝到芯片載體中,用於構建電子設備,例如計算機等。

切割過程中,晶圓通常安裝在切割膠帶上,切割膠帶具有黏性背襯,可將晶圓固定在薄金框架上。根據切割應用的不同,切割膠帶具有不同的特性。 UV固化膠帶用於較小尺寸,非UV切割膠帶用於較大晶片尺寸。劃片鋸可以使用帶有鑽石顆粒的劃片刀片,以30,000 rpm的速度旋轉並用去離子水冷卻。一旦晶圓被切割,留在切割帶上的片就被稱為裸晶。每個都將被封裝在合適的封裝中或作為「裸芯片」直接放置在印刷電路板基板上。被切掉的區域稱為模具街道,通常約75 μm寬。一旦晶圓被切割,晶片將留在切割膠帶上,直到在電子組裝過程中被晶片處理設備(例如晶片鍵合機或晶片分類機)取出。

標準半導體製造採用「減薄後切割」方法,即先將晶圓減薄,然後再進行切割。晶圓在切割前會被稱為背面研磨(back side grinding)的工藝進行研磨。 [1]

留在膠帶上的晶片尺寸範圍可能為一側35 mm(非常大)至 0.1 mm(非常小)。創建的模具可以是由直線生成的任何形狀,通常是矩形或正方形。在某些情況下,它們也可以是其他形狀,這取決於所使用的分割方法。全切割雷射切割機能夠切割和分離各種形狀。

切割的材料包括玻璃氧化鋁、硅、砷化鎵(GaAs)、藍寶石上硅(SoS)、陶瓷和精密化合物半導體。[來源請求][需要引用]

隱形切割

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隱形切割150 µm厚的硅晶圓橫截面顯微照片 [4]

矽晶片的切割也可以透過基於雷射的技術進行,即所謂的隱形切割過程。它是一個兩階段的過程,首先透過沿著預定的切割線掃描光束將缺陷區域引入晶圓中,然後擴展下面的載體膜以引發斷裂。 [5]

第一步使用波長1064 nm的脈衝Nd:YAG 激光,很好適應的電子能隙(1117 nm),因此可通過光學聚焦調整最大吸收[6]缺陷區域約10 µm寬度透過激光沿著預期的切割通道進行多次掃描刻劃,其中光束聚焦在晶圓的不同深度。[7]單一雷射脈衝會導致類似於蠟燭火焰形狀的缺陷晶體區域。這種形狀是由雷射光束焦點中照射區域的快速熔化和凝固造成,其中只有一些 立方微米等級的小體積在奈秒內突然升至約1000 K的溫度,然後再次降至環境溫度。[6][7]雷射的脈衝頻率通常約為100 kHz,而晶片以大約 1 m/s的速度移動。缺陷區域約10 µm 寬度最終刻在晶圓上,在機械負載下沿著晶圓發生優先斷裂。斷裂在第二步驟中進行,並透過徑向膨脹晶片所附著的載體膜來進行。解理從底部開始並進展到表面,因此必須在底部引入高畸變密度。[需要解釋][需要澄清][來源請求]

隱形切割工藝的優點是不需要冷卻液。乾式切割方法不可避免地必須應用於某些微機電系統 的製備,特別是當這些系統用於生物電子時。[4]此外,隱形切割幾乎不會產生碎片,並且由於與晶圓鋸相比切口損失較小,因此可以改善晶圓表面的利用。在此步驟之後可以進行晶片研磨,以減少晶片厚度。[8]

研削前切割

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DBG (dice before grind)製程是一種無需切割即可分離晶片的方法。分離發生在晶圓減薄步驟期間。最初使用半切切割機將晶圓切割至低於最終目標厚度的深度。接下來,將晶圓減薄至目標厚度,同時安裝在特殊的黏合膜[9],然後安裝到拾取膠帶上以將晶片固定到位,直到準備好進行封裝步驟。 DBG 製程的優點在於更高的模具強度。[10]或者,可以使用等離子切割,用DRIE等離子蝕刻取代切割機鋸。 [11] [12] [13] [14] [15] [16] [17] [18]

DBG製程需要背磨膠帶具有以下屬性,1)黏附力強(防止磨削過程中研磨液和模具灰塵的滲透),2)吸收和/或緩解磨削過程中的壓縮應力和剪切應力,3)抑制因晶片之間的接觸而產生的裂紋,4)透過紫外線照射可以大大降低黏合強度。[19]

相關內容

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  • 晶圓鍵合

參考

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  1. ^ 1.0 1.1 Lei, Wei-Sheng; Kumar, Ajay; Yalamanchili, Rao. Die singulation technologies for advanced packaging: A critical review. Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena. 2012-04-06, 30 (4). ISSN 2166-2746. doi:10.1116/1.3700230. 
  2. ^ Key Wafer Sawing Factors. Optocap. [14 April 2013]. (原始內容存檔於2013-05-21). 
  3. ^ Wafer Dicing Service | Wafer Backgrinding & Bonding Services. www.syagrussystems.com. [2021-11-20]. (原始內容存檔於2023-05-06). 
  4. ^ 4.0 4.1 M. Birkholz; K.-E. Ehwald; M. Kaynak; T. Semperowitsch; B. Holz; S. Nordhoff. Separation of extremely miniaturized medical sensors by IR laser dicing. J. Opto. Adv. Mat. 2010, 12: 479–483.  引用錯誤:帶有name屬性「JOAM2010」的<ref>標籤用不同內容定義了多次
  5. ^ M. Kumagai; N. Uchiyama; E. Ohmura; R. Sugiura; K. Atsumi; K. Fukumitsu. Advanced Dicing Technology for Semiconductor Wafer—Stealth Dicing. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. August 2007, 20 (3): 259–265. S2CID 6034954. doi:10.1109/TSM.2007.901849. 
  6. ^ 6.0 6.1 E. Ohmura; F. Fukuyo; K. Fukumitsu; H. Morita. Internal modified layer formation mechanism into silicon with nanosecond laser. J. Achiev. Mat. Manuf. Eng. 2006, 17: 381–384. 
  7. ^ 7.0 7.1 M. Kumagai; N. Uchiyama; E. Ohmura; R. Sugiura; K. Atsumi; K. Fukumitsu. Advanced Dicing Technology for Semiconductor Wafer – Stealth Dicing. IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 2007, 20 (3): 259–265. S2CID 6034954. doi:10.1109/TSM.2007.901849. 
  8. ^ 共通 | DISCO Corporation. [2024-01-11]. (原始內容存檔於2019-12-08). 
  9. ^ 共通 | DISCO Corporation. [2024-01-11]. (原始內容存檔於2020-02-22). 
  10. ^ Semiconductor Dicing Tapes. Semiconductor Dicing Tapes. [14 April 2013]. (原始內容存檔於2023-05-04). 
  11. ^ Plasma Dicing | Orbotech. www.orbotech.com. [2024-01-11]. (原始內容存檔於2019-12-05). 
  12. ^ APX300 : Plasma Dicer - Industrial Devices & Solutions - Panasonic. industrial.panasonic.com. [2024-01-11]. (原始內容存檔於2021-06-16). 
  13. ^ Plasma Dicing of Silicon & III-V (GaAs, InP & GaN). SAMCO Inc. [2024-01-11]. (原始內容存檔於2023-05-07). 
  14. ^ Example of plasma dicing process | Download Scientific Diagram. [2024-01-11]. (原始內容存檔於2023-05-02). 
  15. ^ Plasma-Therm: Plasma Dicing. www.plasmatherm.com. [2024-01-11]. (原始內容存檔於2023-03-06). 
  16. ^ Plasma Dicing Solutions of a Variety of Materials: From Silicon Wafers with Metal or Resin Layers, to Compound Semiconductors (PDF). [2023-11-19]. (原始內容存檔 (PDF)於2023-05-02). 
  17. ^ Resource Center. Plasma-Therm. June 22, 2022 [2024-01-11]. (原始內容存檔於2024-01-13). 
  18. ^ Plasma Dicing (Dice Before Grind) | Orbotech. www.orbotech.com. 
  19. ^ Products for DBG Process (LINTEC) http://www.lintec-usa.com/di_dbg.cfm頁面存檔備份,存於網際網路檔案館