首頁
隨機
附近
登入
設定
資助維基百科
關於Wikipedia
免責聲明
搜尋
掃描鏈
語言
監視
編輯
掃描鏈
(英語:
Scan chain
)是
可測試性設計
的一種實現技術。它通過植入
移位寄存器
,使得測試人員可以從外部控制和觀測電路內部
觸發器
的信號值。
參考文獻
編輯
Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu and Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Morgan Kaufmann.
ISBN
978-0123705976
.
相關條目
編輯
內建自測試