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扫描链
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扫描链
(英語:
Scan chain
)是
可测试性设计
的一种实现技术。它通过植入
移位寄存器
,使得测试人员可以从外部控制和观测电路内部
触发器
的信号值。
参考文献
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Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu and Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Morgan Kaufmann.
ISBN
978-0123705976
.
相关条目
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内建自测试